A PROFILE-FITTING PROCEDURE FOR ANALYSIS OF BROADENED X-RAY-DIFFRACTION PEAKS .1. METHODOLOGY / Enzo, Stefano; Fagherazzi, G; Benedetti, A; Polizzi, S.. - In: JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY. - ISSN 0021-8898. - 21:(1988), pp. 536-542. [10.1107/S0021889888006612]

A PROFILE-FITTING PROCEDURE FOR ANALYSIS OF BROADENED X-RAY-DIFFRACTION PEAKS .1. METHODOLOGY

ENZO, Stefano;
1988

A PROFILE-FITTING PROCEDURE FOR ANALYSIS OF BROADENED X-RAY-DIFFRACTION PEAKS .1. METHODOLOGY / Enzo, Stefano; Fagherazzi, G; Benedetti, A; Polizzi, S.. - In: JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY. - ISSN 0021-8898. - 21:(1988), pp. 536-542. [10.1107/S0021889888006612]
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