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EnglishA PROFILE-FITTING PROCEDURE FOR ANALYSIS OF BROADENED X-RAY-DIFFRACTION PEAKS .1. METHODOLOGY / ENZO S; FAGHERAZZI G; BENEDETTI A; POLIZZI S. - In: JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY. - ISSN 0021-8898. - 21(1988), pp. 536-542.
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| Titolo: | A PROFILE-FITTING PROCEDURE FOR ANALYSIS OF BROADENED X-RAY-DIFFRACTION PEAKS .1. METHODOLOGY |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 1988 |
| Rivista: | |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11388/48124 |
| Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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http://hdl.handle.net/11388/48124
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