Attenzione: i dati modificati non sono ancora stati salvati. Per confermare inserimenti o cancellazioni di voci è necessario confermare con il tasto SALVA/INSERISCI in fondo alla pagina
IRIS
Dalitz plot analysis of the decay B-+/-->(KKK -/+)-K-+/--K-+/- RID A-8798-2012 RID C-2728-2008 RID C-5223-2009 RID C-5719-2008 RID D-1055-2009 RID A-2675-2009 / Aubert, B.; Barate, R.; Bona, M.; Boutigny, D.; Couderc, F.; Karyotakis, Y.; Lees, J. P.; Poireau, V.; Tisserand, V.; Zghiche, A.; Grauges, E.; Palano, A.; Pappagallo, M.; Chen, J. C.; Qi, N. D.; Rong, G.; Wang, P.; Zhu, Y. S.; Eigen, G.; Ofte, I.; Stugu, B.; Abrams, G. S.; Battaglia, M.; Brown, D. N.; Button-Shafer, J.; Cahn, R. N.; Charles, E.; Day, C. T.; Gill, M. S.; Groysman, Y.; Jacobsen, R. G.; Kadyk, J. A.; Kerth, L. T.; Kolomensky, Yu. G.; Kukartsev, G.; Lynch, G.; Mir, L. M.; Oddone, P. J.; Orimoto, T. J.; Pripstein, M.; Roe, N. A.; Ronan, M. T.; Wenzel, W. A.; Barrett, M.; Ford, K. E.; Harrison, T. J.; Hart, A. J.; Hawkes, C. M.; Morgan, S. E.; Watson, A. T.; Goetzen, K.; Held, T.; Koch, H.; Lewandowski, B.; Pelizaeus, M.; Peters, K.; Schroeder, T.; Steinke, M.; Boyd, J. T.; Burke, J. P.; Cottingham, W. N.; Walker, D.; Cuhadar-Donszelmann, T.; Fulsom, B. G.; Hearty, C.; Knecht, N. S.; Mattison, T. S.; Mckenna, J. A.; Khan, A.; Kyberd, P.; Saleem, M.; Teodorescu, L.; Blinov, V. E.; Bukin, A. D.; Druzhinin, V. P.; Golubev, V. B.; Onuchin, A. P.; Serednyakov, S. I.; Skovpen, Yu. I.; Solodov, E. P.; Todyshev, K. Y.; Best, D. S.; Bondioli, M.; Bruinsma, M.; Chao, M.; Curry, S.; Eschrich, I.; Kirkby, D.; Lankford, A. J.; Lund, P.; Mandelkern, M.; Mommsen, R. K.; Roethel, W.; Stoker, D. P.; Abachi, S.; Buchanan, C.; Foulkes, S. D.; Gary, J. W.; Long, O.; Shen, B. C.; Wang, K.; Zhang, L.; Hadavand, H. K.; Hill, E. J.; Paar, H. P.; Rahatlou, S.; Sharma, V.; Berryhill, J. W.; Campagnari, C.; Cunha, A.; Dahmes, B.; Hong, T. M.; Kovalskyi, D.; Richman, J. D.; Beck, T. W.; Eisner, A. M.; Flacco, C. J.; Heusch, C. A.; Kroseberg, J.; Lockman, W. S.; Nesom, G.; Schalk, T.; Schumm, B. A.; Seiden, A.; Spradlin, P.; Williams, D. C.; Wilson, M. G.; Albert, J.; Chen, E.; Dvoretskii, A.; Hitlin, D. G.; Narsky, I.; Piatenko, T.; Porter, F. C.; Ryd, A.; Samuel, A.; Andreassen, R.; Mancinelli, G.; Meadows, B. T.; Sokoloff, M. D.; Blanc, F.; Bloom, P. C.; Chen, S.; Ford, W. T.; Hirschauer, J. F.; Kreisel, A.; Nauenberg, U.; Olivas, A.; Ruddick, W. O.; Smith, J. G.; Ulmer, K. A.; Wagner, S. R.; Zhang, J.; Chen, A.; Eckhart, E. A.; Soffer, A.; Toki, W. H.; Wilson, R. J.; Winklmeier, F.; Zeng, Q.; Altenburg, D. D.; Feltresi, E.; Hauke, A.; Jasper, H.; Spaan, B.; Brandt, T.; Klose, V.; Lacker, H. M.; Mader, W. F.; Nogowski, R.; Petzold, A.; Schubert, J.; Schubert, K. R.; Schwierz, R.; Sundermann, J. E.; Volk, A.; Bernard, D.; Bonneaud, G. R.; Grenier, P.; Latour, E.; Thiebaux, Ch.; Verderi, M.; Bard, D. J.; Clark, P. J.; Gradl, W.; Muheim, F.; Playfer, S.; Robertson, A. I.; Xie, Y.; Andreotti, M.; Bettoni, D.; Bozzi, C.; Calabrese, R.; Cibinetto, G.; Luppi, E.; Negrini, M.; Petrella, A.; Piemontese, L.; Prencipe, E.; Anulli, F.; Baldini-Ferroli, R.; Calcaterra, A.; De Sangro, R.; Finocchiaro, G.; Pacetti, S.; Patteri, P.; Peruzzi, I. M.; Piccolo, M.; Rama, M.; Zallo, A.; Buzzo, A.; Capra, R.; Contri, R.; Lo Vetere, M.; Macri, M. M.; Monge, M. R.; Passaggio, S.; Patrignani, C.; Robutti, E.; Santroni, A.; Tosi, S.; Brandenburg, G.; Chaisanguanthum, K. S.; Morii, M.; Wu, J.; Dubitzky, R. S.; Marks, J.; Schenk, S.; Uwer, U.; Bhimji, W.; Bowerman, D. A.; Dauncey, P. D.; Egede, U.; Flack, R. L.; Gaillard, J. R.; Nash, J. A.; Nikolich, M. B.; Panduro Vazquez, W.; Chai, X.; Charles, M. J.; Mallik, U.; Meyer, N. T.; Ziegler, V.; Cochran, J.; Crawley, H. B.; Dong, L.; Eyges, V.; Meyer, W. T.; Prell, S.; Rosenberg, E. I.; Rubin, A. E.; Gritsan, A. V.; Fritsch, M.; Schott, G.; Arnaud, N.; Davier, M.; Grosdidier, G.; Höcker, A.; Le Diberder, F.; Lepeltier, V.; Lutz, A. M.; Oyanguren, A.; Pruvot, S.; Rodier, S.; Roudeau, P.; Schune, M. H.; Stocchi, A.; Wang, W. F.; Wormser, G.; Cheng, C. H.; Lange, D. J.; Wright, D. M.; Chavez, C. A.; Forster, I. J.; Fry, J. R.; Gabathuler, E.; Gamet, R.; George, K. A.; Hutchcroft, D. E.; Payne, D. J.; Schofield, K. C.; Touramanis, C.; Bevan, A. J.; Di Lodovico, F.; Menges, W.; Sacco, R.; Brown, C. L.; Cowan, G.; Flaecher, H. U.; Hopkins, D. A.; Jackson, P. S.; Mcmahon, T. R.; Ricciardi, S.; Salvatore, F.; Brown, D. N.; Davis, C. L.; Allison, J.; Barlow, N. R.; Barlow, R. J.; Chia, Y. M.; Edgar, C. L.; Kelly, M. P.; Lafferty, G. D.; Naisbit, M. T.; Williams, J. C.; Yi, J. I.; Chen, C.; Hulsbergen, W. D.; Jawahery, A.; Lae, C. K.; Roberts, D. A.; Simi, G.; Blaylock, G.; Dallapiccola, C.; Hertzbach, S. S.; Li, X.; Moore, T. B.; Saremi, S.; Staengle, H.; Willocq, S. Y.; Cowan, R.; Koeneke, K.; Sciolla, G.; Sekula, S. J.; Spitznagel, M.; Taylor, F.; Yamamoto, R. K.; Kim, H.; Patel, P. M.; Potter, C. T.; Robertson, S. H.; Lazzaro, A.; Lombardo, V.; Palombo, F.; Bauer, J. M.; Cremaldi, L.; Eschenburg, V.; Godang, R.; Kroeger, R.; Reidy, J.; Sanders, D. A.; Summers, D. J.; Zhao, H. W.; Brunet, S.; Côté, D.; Simard, M.; Taras, P.; Viaud, F. B.; Nicholson, H.; Cavallo, N.; De Nardo, G.; Del Re, D.; Fabozzi, F.; Gatto, C.; Lista, L.; Monorchio, D.; Piccolo, D.; Sciacca, C.; Baak, M.; Bulten, H.; Raven, G.; Snoek, H. L.; Jessop, C. P.; Losecco, J. M.; Allmendinger, T.; Benelli, G.; Gan, K. K.; Honscheid, K.; Hufnagel, D.; Jackson, P. D.; Kagan, H.; Kass, R.; Pulliam, T.; Rahimi, A. M.; Ter-Antonyan, R.; Wong, Q. K.; Blount, N. L.; Brau, J.; Frey, R.; Igonkina, O.; Lu, M.; Rahmat, R.; Sinev, N. B.; Strom, D.; Strube, J.; Torrence, E.; Galeazzi, F.; Gaz, A.; Margoni, M.; Morandin, M.; Pompili, A.; Posocco, M.; Rotondo, M.; Simonetto, F.; Stroili, R.; Voci, C.; Benayoun, M.; Chauveau, J.; David, P.; Del Buono, L.; De La Vaissière, Ch.; Hamon, O.; Hartfiel, B. L.; John, M. J. J.; Leruste, Ph.; Malclès, J.; Ocariz, J.; Roos, L.; Therin, G.; Behera, P. K.; Gladney, L.; Panetta, J.; Biasini, M.; Covarelli, R.; Pioppi, M.; Angelini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Bucci, F.; Calderini, G.; Carpinelli, M.; Cenci, R.; Forti, F.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Marchiori, G.; Mazur, M. A.; Morganti, M.; Neri, N.; Paoloni, E.; Rizzo, G.; Walsh, J.; Haire, M.; Judd, D.; Wagoner, D. E.; Biesiada, J.; Danielson, N.; Elmer, P.; Lau, Y. P.; Lu, C.; Olsen, J.; Smith, A. J. S.; Telnov, A. V.; Bellini, F.; Cavoto, G.; D'Orazio, A.; Di Marco, E.; Faccini, R.; Ferrarotto, F.; Ferroni, F.; Gaspero, M.; Li Gioi, L.; Mazzoni, M. A.; Morganti, S.; Piredda, G.; Polci, F.; Safai Tehrani, F.; Voena, C.; Ebert, M.; Schröder, H.; Waldi, R.; Adye, T.; De Groot, N.; Franek, B.; Olaiya, E. O.; Wilson, F. F.; Emery, S.; Gaidot, A.; Ganzhur, S. F.; Hamel De Monchenault, G.; Kozanecki, W.; Legendre, M.; Mayer, B.; Vasseur, G.; Yèche, Ch.; Zito, M.; Park, W.; Purohit, M. V.; Weidemann, A. W.; Wilson, J. R.; Allen, M. T.; Aston, D.; Bartoldus, R.; Bechtle, P.; Berger, N.; Boyarski, A. M.; Claus, R.; Coleman, J. P.; Convery, M. R.; Cristinziani, M.; Dingfelder, J. C.; Dong, D.; Dorfan, J.; Dubois-Felsmann, G. P.; Dujmic, D.; Dunwoodie, W.; Field, R. C.; Glanzman, T.; Gowdy, S. J.; Graham, M. T.; Halyo, V.; Hast, C.; Hryn'Ova, T.; Innes, W. R.; Kelsey, M. H.; Kim, P.; Kocian, M. L.; Leith, D. W. G. S.; Li, S.; Libby, J.; Luitz, S.; Luth, V.; Lynch, H. L.; Macfarlane, D. B.; Marsiske, H.; Messner, R.; Muller, D. R.; O'Grady, C. P.; Ozcan, V. E.; Perazzo, A.; Perl, M.; Ratcliff, B. N.; Roodman, A.; Salnikov, A. A.; Schindler, R. H.; Schwiening, J.; Snyder, A.; Stelzer, J.; Su, D.; Sullivan, M. K.; Suzuki, K.; Swain, S. K.; Thompson, J. M.; Va'Vra, J.; Van Bakel, N.; Weaver, M.; Weinstein, A. J. R.; Wisniewski, W. J.; Wittgen, M.; Wright, D. H.; Yarritu, A. K.; Yi, K.; Young, C. C.; Burchat, P. R.; Edwards, A. J.; Majewski, S. A.; Petersen, B. A.; Roat, C.; Wilden, L.; Ahmed, S.; Alam, M. S.; Bula, R.; Ernst, J. A.; Jain, V.; Pan, B.; Saeed, M. A.; Wappler, F. R.; Zain, S. B.; Bugg, W.; Krishnamurthy, M.; Spanier, S. M.; Eckmann, R.; Ritchie, J. L.; Satpathy, A.; Schilling, C. J.; Schwitters, R. F.; Izen, J. M.; Kitayama, I.; Lou, X. C.; Ye, S.; Bianchi, F.; Gallo, F.; Gamba, D.; Bomben, M.; Bosisio, L.; Cartaro, C.; Cossutti, F.; Della Ricca, G.; Dittongo, S.; Grancagnolo, S.; Lanceri, L.; Vitale, L.; Azzolini, V.; Martinez-Vidal, F.; Banerjee, Sw.; Bhuyan, B.; Brown, C. M.; Fortin, D.; Hamano, K.; Kowalewski, R.; Nugent, I. M.; Roney, J. M.; Sobie, R. J.; Back, J. J.; Harrison, P. F.; Latham, T. E.; Mohanty, G. B.; Band, H. R.; Chen, X.; Cheng, B.; Dasu, S.; Datta, M.; Eichenbaum, A. M.; Flood, K. T.; Hollar, J. J.; Johnson, J. R.; Kutter, P. E.; Li, H.; Liu, R.; Mellado, B.; Mihalyi, A.; Mohapatra, A. K.; Pan, Y.; Pierini, M.; Prepost, R.; Tan, P.; Wu, S. L.; Yu, Z.; Neal, H.. - In: PHYSICAL REVIEW D, PARTICLES, FIELDS, GRAVITATION, AND COSMOLOGY. - ISSN 1550-7998. - 74:3(2006). [10.1103/PhysRevD.74.032003]
Dalitz plot analysis of the decay B-+/-->(KKK -/+)-K-+/--K-+/- RID A-8798-2012 RID C-2728-2008 RID C-5223-2009 RID C-5719-2008 RID D-1055-2009 RID A-2675-2009
Aubert B.;Barate R.;Bona M.;Boutigny D.;Couderc F.;Karyotakis Y.;Lees J. P.;Poireau V.;Tisserand V.;Zghiche A.;Grauges E.;Palano A.;Pappagallo M.;Chen J. C.;Qi N. D.;Rong G.;Wang P.;Zhu Y. S.;Eigen G.;Ofte I.;Stugu B.;Abrams G. S.;Battaglia M.;Brown D. N.;Button-Shafer J.;Cahn R. N.;Charles E.;Day C. T.;Gill M. S.;Groysman Y.;Jacobsen R. G.;Kadyk J. A.;Kerth L. T.;Kolomensky Yu. G.;Kukartsev G.;Lynch G.;Mir L. M.;Oddone P. J.;Orimoto T. J.;Pripstein M.;Roe N. A.;Ronan M. T.;Wenzel W. A.;Barrett M.;Ford K. E.;Harrison T. J.;Hart A. J.;Hawkes C. M.;Morgan S. E.;Watson A. T.;Goetzen K.;Held T.;Koch H.;Lewandowski B.;Pelizaeus M.;Peters K.;Schroeder T.;Steinke M.;Boyd J. T.;Burke J. P.;Cottingham W. N.;Walker D.;Cuhadar-Donszelmann T.;Fulsom B. G.;Hearty C.;Knecht N. S.;Mattison T. S.;McKenna J. A.;Khan A.;Kyberd P.;Saleem M.;Teodorescu L.;Blinov V. E.;Bukin A. D.;Druzhinin V. P.;Golubev V. B.;Onuchin A. P.;Serednyakov S. I.;Skovpen Yu. I.;Solodov E. P.;Todyshev K. Y.;Best D. S.;Bondioli M.;Bruinsma M.;Chao M.;Curry S.;Eschrich I.;Kirkby D.;Lankford A. J.;Lund P.;Mandelkern M.;Mommsen R. K.;Roethel W.;Stoker D. P.;Abachi S.;Buchanan C.;Foulkes S. D.;Gary J. W.;Long O.;Shen B. C.;Wang K.;Zhang L.;Hadavand H. K.;Hill E. J.;Paar H. P.;Rahatlou S.;Sharma V.;Berryhill J. W.;Campagnari C.;Cunha A.;Dahmes B.;Hong T. M.;Kovalskyi D.;Richman J. D.;Beck T. W.;Eisner A. M.;Flacco C. J.;Heusch C. A.;Kroseberg J.;Lockman W. S.;Nesom G.;Schalk T.;Schumm B. A.;Seiden A.;Spradlin P.;Williams D. C.;Wilson M. G.;Albert J.;Chen E.;Dvoretskii A.;Hitlin D. G.;Narsky I.;Piatenko T.;Porter F. C.;Ryd A.;Samuel A.;Andreassen R.;Mancinelli G.;Meadows B. T.;Sokoloff M. D.;Blanc F.;Bloom P. C.;Chen S.;Ford W. T.;Hirschauer J. F.;Kreisel A.;Nauenberg U.;Olivas A.;Ruddick W. O.;Smith J. G.;Ulmer K. A.;Wagner S. R.;Zhang J.;Chen A.;Eckhart E. A.;Soffer A.;Toki W. H.;Wilson R. J.;Winklmeier F.;Zeng Q.;Altenburg D. D.;Feltresi E.;Hauke A.;Jasper H.;Spaan B.;Brandt T.;Klose V.;Lacker H. M.;Mader W. F.;Nogowski R.;Petzold A.;Schubert J.;Schubert K. R.;Schwierz R.;Sundermann J. E.;Volk A.;Bernard D.;Bonneaud G. R.;Grenier P.;Latour E.;Thiebaux Ch.;Verderi M.;Bard D. J.;Clark P. J.;Gradl W.;Muheim F.;Playfer S.;Robertson A. I.;Xie Y.;Andreotti M.;Bettoni D.;Bozzi C.;Calabrese R.;Cibinetto G.;Luppi E.;Negrini M.;Petrella A.;Piemontese L.;Prencipe E.;Anulli F.;Baldini-Ferroli R.;Calcaterra A.;De Sangro R.;Finocchiaro G.;Pacetti S.;Patteri P.;Peruzzi I. M.;Piccolo M.;Rama M.;Zallo A.;Buzzo A.;Capra R.;Contri R.;Lo Vetere M.;MacRi M. M.;Monge M. R.;Passaggio S.;Patrignani C.;Robutti E.;Santroni A.;Tosi S.;Brandenburg G.;Chaisanguanthum K. S.;Morii M.;Wu J.;Dubitzky R. S.;Marks J.;Schenk S.;Uwer U.;Bhimji W.;Bowerman D. A.;Dauncey P. D.;Egede U.;Flack R. L.;Gaillard J. R.;Nash J. A.;Nikolich M. B.;Panduro Vazquez W.;Chai X.;Charles M. J.;Mallik U.;Meyer N. T.;Ziegler V.;Cochran J.;Crawley H. B.;Dong L.;Eyges V.;Meyer W. T.;Prell S.;Rosenberg E. I.;Rubin A. E.;Gritsan A. V.;Fritsch M.;Schott G.;Arnaud N.;Davier M.;Grosdidier G.;Höcker A.;Le Diberder F.;Lepeltier V.;Lutz A. M.;Oyanguren A.;Pruvot S.;Rodier S.;Roudeau P.;Schune M. H.;Stocchi A.;Wang W. F.;Wormser G.;Cheng C. H.;Lange D. J.;Wright D. M.;Chavez C. A.;Forster I. J.;Fry J. R.;Gabathuler E.;Gamet R.;George K. A.;Hutchcroft D. E.;Payne D. J.;Schofield K. C.;Touramanis C.;Bevan A. J.;Di Lodovico F.;Menges W.;Sacco R.;Brown C. L.;Cowan G.;Flaecher H. U.;Hopkins D. A.;Jackson P. S.;McMahon T. R.;Ricciardi S.;Salvatore F.;Brown D. N.;Davis C. L.;Allison J.;Barlow N. R.;Barlow R. J.;Chia Y. M.;Edgar C. L.;Kelly M. P.;Lafferty G. D.;Naisbit M. T.;Williams J. C.;Yi J. I.;Chen C.;Hulsbergen W. D.;Jawahery A.;Lae C. K.;Roberts D. A.;Simi G.;Blaylock G.;Dallapiccola C.;Hertzbach S. S.;Li X.;Moore T. B.;Saremi S.;Staengle H.;Willocq S. Y.;Cowan R.;Koeneke K.;Sciolla G.;Sekula S. J.;Spitznagel M.;Taylor F.;Yamamoto R. K.;Kim H.;Patel P. M.;Potter C. T.;Robertson S. H.;Lazzaro A.;Lombardo V.;Palombo F.;Bauer J. M.;Cremaldi L.;Eschenburg V.;Godang R.;Kroeger R.;Reidy J.;Sanders D. A.;Summers D. J.;Zhao H. W.;Brunet S.;Côté D.;Simard M.;Taras P.;Viaud F. B.;Nicholson H.;Cavallo N.;De Nardo G.;Del Re D.;Fabozzi F.;Gatto C.;Lista L.;Monorchio D.;Piccolo D.;Sciacca C.;Baak M.;Bulten H.;Raven G.;Snoek H. L.;Jessop C. P.;Losecco J. M.;Allmendinger T.;Benelli G.;Gan K. K.;Honscheid K.;Hufnagel D.;Jackson P. D.;Kagan H.;Kass R.;Pulliam T.;Rahimi A. M.;Ter-Antonyan R.;Wong Q. K.;Blount N. L.;Brau J.;Frey R.;Igonkina O.;Lu M.;Rahmat R.;Sinev N. B.;Strom D.;Strube J.;Torrence E.;Galeazzi F.;Gaz A.;Margoni M.;Morandin M.;Pompili A.;Posocco M.;Rotondo M.;Simonetto F.;Stroili R.;Voci C.;Benayoun M.;Chauveau J.;David P.;Del Buono L.;De La Vaissière Ch.;Hamon O.;Hartfiel B. L.;John M. J. J.;Leruste Ph.;Malclès J.;Ocariz J.;Roos L.;Therin G.;Behera P. K.;Gladney L.;Panetta J.;Biasini M.;Covarelli R.;Pioppi M.;Angelini C.;Batignani G.;Bettarini S.;Bucci F.;Calderini G.;Carpinelli M.;Cenci R.;Forti F.;Giorgi M. A.;Lusiani A.;Marchiori G.;Mazur M. A.;Morganti M.;Neri N.;Paoloni E.;Rizzo G.;Walsh J.;Haire M.;Judd D.;Wagoner D. E.;Biesiada J.;Danielson N.;Elmer P.;Lau Y. P.;Lu C.;Olsen J.;Smith A. J. S.;Telnov A. V.;Bellini F.;Cavoto G.;D'Orazio A.;Di Marco E.;Faccini R.;Ferrarotto F.;Ferroni F.;Gaspero M.;Li Gioi L.;Mazzoni M. A.;Morganti S.;Piredda G.;Polci F.;Safai Tehrani F.;Voena C.;Ebert M.;Schröder H.;Waldi R.;Adye T.;De Groot N.;Franek B.;Olaiya E. O.;Wilson F. F.;Emery S.;Gaidot A.;Ganzhur S. F.;Hamel De Monchenault G.;Kozanecki W.;Legendre M.;Mayer B.;Vasseur G.;Yèche Ch.;Zito M.;Park W.;Purohit M. V.;Weidemann A. W.;Wilson J. R.;Allen M. T.;Aston D.;Bartoldus R.;Bechtle P.;Berger N.;Boyarski A. M.;Claus R.;Coleman J. P.;Convery M. R.;Cristinziani M.;Dingfelder J. C.;Dong D.;Dorfan J.;Dubois-Felsmann G. P.;Dujmic D.;Dunwoodie W.;Field R. C.;Glanzman T.;Gowdy S. J.;Graham M. T.;Halyo V.;Hast C.;Hryn'Ova T.;Innes W. R.;Kelsey M. H.;Kim P.;Kocian M. L.;Leith D. W. G. S.;Li S.;Libby J.;Luitz S.;Luth V.;Lynch H. L.;MacFarlane D. B.;Marsiske H.;Messner R.;Muller D. R.;O'Grady C. P.;Ozcan V. E.;Perazzo A.;Perl M.;Ratcliff B. N.;Roodman A.;Salnikov A. A.;Schindler R. H.;Schwiening J.;Snyder A.;Stelzer J.;Su D.;Sullivan M. K.;Suzuki K.;Swain S. K.;Thompson J. M.;Va'vra J.;Van Bakel N.;Weaver M.;Weinstein A. J. R.;Wisniewski W. J.;Wittgen M.;Wright D. H.;Yarritu A. K.;Yi K.;Young C. C.;Burchat P. R.;Edwards A. J.;Majewski S. A.;Petersen B. A.;Roat C.;Wilden L.;Ahmed S.;Alam M. S.;Bula R.;Ernst J. A.;Jain V.;Pan B.;Saeed M. A.;Wappler F. R.;Zain S. B.;Bugg W.;Krishnamurthy M.;Spanier S. M.;Eckmann R.;Ritchie J. L.;Satpathy A.;Schilling C. J.;Schwitters R. F.;Izen J. M.;Kitayama I.;Lou X. C.;Ye S.;Bianchi F.;Gallo F.;Gamba D.;Bomben M.;Bosisio L.;Cartaro C.;Cossutti F.;Della Ricca G.;Dittongo S.;Grancagnolo S.;Lanceri L.;Vitale L.;Azzolini V.;Martinez-Vidal F.;Banerjee Sw.;Bhuyan B.;Brown C. M.;Fortin D.;Hamano K.;Kowalewski R.;Nugent I. M.;Roney J. M.;Sobie R. J.;Back J. J.;Harrison P. F.;Latham T. E.;Mohanty G. B.;Band H. R.;Chen X.;Cheng B.;Dasu S.;Datta M.;Eichenbaum A. M.;Flood K. T.;Hollar J. J.;Johnson J. R.;Kutter P. E.;Li H.;Liu R.;Mellado B.;Mihalyi A.;Mohapatra A. K.;Pan Y.;Pierini M.;Prepost R.;Tan P.;Wu S. L.;Yu Z.;Neal H.
Dalitz plot analysis of the decay B-+/-->(KKK -/+)-K-+/--K-+/- RID A-8798-2012 RID C-2728-2008 RID C-5223-2009 RID C-5719-2008 RID D-1055-2009 RID A-2675-2009 / Aubert, B.; Barate, R.; Bona, M.; Boutigny, D.; Couderc, F.; Karyotakis, Y.; Lees, J. P.; Poireau, V.; Tisserand, V.; Zghiche, A.; Grauges, E.; Palano, A.; Pappagallo, M.; Chen, J. C.; Qi, N. D.; Rong, G.; Wang, P.; Zhu, Y. S.; Eigen, G.; Ofte, I.; Stugu, B.; Abrams, G. S.; Battaglia, M.; Brown, D. N.; Button-Shafer, J.; Cahn, R. N.; Charles, E.; Day, C. T.; Gill, M. S.; Groysman, Y.; Jacobsen, R. G.; Kadyk, J. A.; Kerth, L. T.; Kolomensky, Yu. G.; Kukartsev, G.; Lynch, G.; Mir, L. M.; Oddone, P. J.; Orimoto, T. J.; Pripstein, M.; Roe, N. A.; Ronan, M. T.; Wenzel, W. A.; Barrett, M.; Ford, K. E.; Harrison, T. J.; Hart, A. J.; Hawkes, C. M.; Morgan, S. E.; Watson, A. T.; Goetzen, K.; Held, T.; Koch, H.; Lewandowski, B.; Pelizaeus, M.; Peters, K.; Schroeder, T.; Steinke, M.; Boyd, J. T.; Burke, J. P.; Cottingham, W. N.; Walker, D.; Cuhadar-Donszelmann, T.; Fulsom, B. G.; Hearty, C.; Knecht, N. S.; Mattison, T. S.; Mckenna, J. A.; Khan, A.; Kyberd, P.; Saleem, M.; Teodorescu, L.; Blinov, V. E.; Bukin, A. D.; Druzhinin, V. P.; Golubev, V. B.; Onuchin, A. P.; Serednyakov, S. I.; Skovpen, Yu. I.; Solodov, E. P.; Todyshev, K. Y.; Best, D. S.; Bondioli, M.; Bruinsma, M.; Chao, M.; Curry, S.; Eschrich, I.; Kirkby, D.; Lankford, A. J.; Lund, P.; Mandelkern, M.; Mommsen, R. K.; Roethel, W.; Stoker, D. P.; Abachi, S.; Buchanan, C.; Foulkes, S. D.; Gary, J. W.; Long, O.; Shen, B. C.; Wang, K.; Zhang, L.; Hadavand, H. K.; Hill, E. J.; Paar, H. P.; Rahatlou, S.; Sharma, V.; Berryhill, J. W.; Campagnari, C.; Cunha, A.; Dahmes, B.; Hong, T. M.; Kovalskyi, D.; Richman, J. D.; Beck, T. W.; Eisner, A. M.; Flacco, C. J.; Heusch, C. A.; Kroseberg, J.; Lockman, W. S.; Nesom, G.; Schalk, T.; Schumm, B. A.; Seiden, A.; Spradlin, P.; Williams, D. C.; Wilson, M. G.; Albert, J.; Chen, E.; Dvoretskii, A.; Hitlin, D. G.; Narsky, I.; Piatenko, T.; Porter, F. C.; Ryd, A.; Samuel, A.; Andreassen, R.; Mancinelli, G.; Meadows, B. T.; Sokoloff, M. D.; Blanc, F.; Bloom, P. C.; Chen, S.; Ford, W. T.; Hirschauer, J. F.; Kreisel, A.; Nauenberg, U.; Olivas, A.; Ruddick, W. O.; Smith, J. G.; Ulmer, K. A.; Wagner, S. R.; Zhang, J.; Chen, A.; Eckhart, E. A.; Soffer, A.; Toki, W. H.; Wilson, R. J.; Winklmeier, F.; Zeng, Q.; Altenburg, D. D.; Feltresi, E.; Hauke, A.; Jasper, H.; Spaan, B.; Brandt, T.; Klose, V.; Lacker, H. M.; Mader, W. F.; Nogowski, R.; Petzold, A.; Schubert, J.; Schubert, K. R.; Schwierz, R.; Sundermann, J. E.; Volk, A.; Bernard, D.; Bonneaud, G. R.; Grenier, P.; Latour, E.; Thiebaux, Ch.; Verderi, M.; Bard, D. J.; Clark, P. J.; Gradl, W.; Muheim, F.; Playfer, S.; Robertson, A. I.; Xie, Y.; Andreotti, M.; Bettoni, D.; Bozzi, C.; Calabrese, R.; Cibinetto, G.; Luppi, E.; Negrini, M.; Petrella, A.; Piemontese, L.; Prencipe, E.; Anulli, F.; Baldini-Ferroli, R.; Calcaterra, A.; De Sangro, R.; Finocchiaro, G.; Pacetti, S.; Patteri, P.; Peruzzi, I. M.; Piccolo, M.; Rama, M.; Zallo, A.; Buzzo, A.; Capra, R.; Contri, R.; Lo Vetere, M.; Macri, M. M.; Monge, M. R.; Passaggio, S.; Patrignani, C.; Robutti, E.; Santroni, A.; Tosi, S.; Brandenburg, G.; Chaisanguanthum, K. S.; Morii, M.; Wu, J.; Dubitzky, R. S.; Marks, J.; Schenk, S.; Uwer, U.; Bhimji, W.; Bowerman, D. A.; Dauncey, P. D.; Egede, U.; Flack, R. L.; Gaillard, J. R.; Nash, J. A.; Nikolich, M. B.; Panduro Vazquez, W.; Chai, X.; Charles, M. J.; Mallik, U.; Meyer, N. T.; Ziegler, V.; Cochran, J.; Crawley, H. B.; Dong, L.; Eyges, V.; Meyer, W. T.; Prell, S.; Rosenberg, E. I.; Rubin, A. E.; Gritsan, A. V.; Fritsch, M.; Schott, G.; Arnaud, N.; Davier, M.; Grosdidier, G.; Höcker, A.; Le Diberder, F.; Lepeltier, V.; Lutz, A. M.; Oyanguren, A.; Pruvot, S.; Rodier, S.; Roudeau, P.; Schune, M. H.; Stocchi, A.; Wang, W. F.; Wormser, G.; Cheng, C. H.; Lange, D. J.; Wright, D. M.; Chavez, C. A.; Forster, I. J.; Fry, J. R.; Gabathuler, E.; Gamet, R.; George, K. A.; Hutchcroft, D. E.; Payne, D. J.; Schofield, K. C.; Touramanis, C.; Bevan, A. J.; Di Lodovico, F.; Menges, W.; Sacco, R.; Brown, C. L.; Cowan, G.; Flaecher, H. U.; Hopkins, D. A.; Jackson, P. S.; Mcmahon, T. R.; Ricciardi, S.; Salvatore, F.; Brown, D. N.; Davis, C. L.; Allison, J.; Barlow, N. R.; Barlow, R. J.; Chia, Y. M.; Edgar, C. L.; Kelly, M. P.; Lafferty, G. D.; Naisbit, M. T.; Williams, J. C.; Yi, J. I.; Chen, C.; Hulsbergen, W. D.; Jawahery, A.; Lae, C. K.; Roberts, D. A.; Simi, G.; Blaylock, G.; Dallapiccola, C.; Hertzbach, S. S.; Li, X.; Moore, T. B.; Saremi, S.; Staengle, H.; Willocq, S. Y.; Cowan, R.; Koeneke, K.; Sciolla, G.; Sekula, S. J.; Spitznagel, M.; Taylor, F.; Yamamoto, R. K.; Kim, H.; Patel, P. M.; Potter, C. T.; Robertson, S. H.; Lazzaro, A.; Lombardo, V.; Palombo, F.; Bauer, J. M.; Cremaldi, L.; Eschenburg, V.; Godang, R.; Kroeger, R.; Reidy, J.; Sanders, D. A.; Summers, D. J.; Zhao, H. W.; Brunet, S.; Côté, D.; Simard, M.; Taras, P.; Viaud, F. B.; Nicholson, H.; Cavallo, N.; De Nardo, G.; Del Re, D.; Fabozzi, F.; Gatto, C.; Lista, L.; Monorchio, D.; Piccolo, D.; Sciacca, C.; Baak, M.; Bulten, H.; Raven, G.; Snoek, H. L.; Jessop, C. P.; Losecco, J. M.; Allmendinger, T.; Benelli, G.; Gan, K. K.; Honscheid, K.; Hufnagel, D.; Jackson, P. D.; Kagan, H.; Kass, R.; Pulliam, T.; Rahimi, A. M.; Ter-Antonyan, R.; Wong, Q. K.; Blount, N. L.; Brau, J.; Frey, R.; Igonkina, O.; Lu, M.; Rahmat, R.; Sinev, N. B.; Strom, D.; Strube, J.; Torrence, E.; Galeazzi, F.; Gaz, A.; Margoni, M.; Morandin, M.; Pompili, A.; Posocco, M.; Rotondo, M.; Simonetto, F.; Stroili, R.; Voci, C.; Benayoun, M.; Chauveau, J.; David, P.; Del Buono, L.; De La Vaissière, Ch.; Hamon, O.; Hartfiel, B. L.; John, M. J. J.; Leruste, Ph.; Malclès, J.; Ocariz, J.; Roos, L.; Therin, G.; Behera, P. K.; Gladney, L.; Panetta, J.; Biasini, M.; Covarelli, R.; Pioppi, M.; Angelini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Bucci, F.; Calderini, G.; Carpinelli, M.; Cenci, R.; Forti, F.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Marchiori, G.; Mazur, M. A.; Morganti, M.; Neri, N.; Paoloni, E.; Rizzo, G.; Walsh, J.; Haire, M.; Judd, D.; Wagoner, D. E.; Biesiada, J.; Danielson, N.; Elmer, P.; Lau, Y. P.; Lu, C.; Olsen, J.; Smith, A. J. S.; Telnov, A. V.; Bellini, F.; Cavoto, G.; D'Orazio, A.; Di Marco, E.; Faccini, R.; Ferrarotto, F.; Ferroni, F.; Gaspero, M.; Li Gioi, L.; Mazzoni, M. A.; Morganti, S.; Piredda, G.; Polci, F.; Safai Tehrani, F.; Voena, C.; Ebert, M.; Schröder, H.; Waldi, R.; Adye, T.; De Groot, N.; Franek, B.; Olaiya, E. O.; Wilson, F. F.; Emery, S.; Gaidot, A.; Ganzhur, S. F.; Hamel De Monchenault, G.; Kozanecki, W.; Legendre, M.; Mayer, B.; Vasseur, G.; Yèche, Ch.; Zito, M.; Park, W.; Purohit, M. V.; Weidemann, A. W.; Wilson, J. R.; Allen, M. T.; Aston, D.; Bartoldus, R.; Bechtle, P.; Berger, N.; Boyarski, A. M.; Claus, R.; Coleman, J. P.; Convery, M. R.; Cristinziani, M.; Dingfelder, J. C.; Dong, D.; Dorfan, J.; Dubois-Felsmann, G. P.; Dujmic, D.; Dunwoodie, W.; Field, R. C.; Glanzman, T.; Gowdy, S. J.; Graham, M. T.; Halyo, V.; Hast, C.; Hryn'Ova, T.; Innes, W. R.; Kelsey, M. H.; Kim, P.; Kocian, M. L.; Leith, D. W. G. S.; Li, S.; Libby, J.; Luitz, S.; Luth, V.; Lynch, H. L.; Macfarlane, D. B.; Marsiske, H.; Messner, R.; Muller, D. R.; O'Grady, C. P.; Ozcan, V. E.; Perazzo, A.; Perl, M.; Ratcliff, B. N.; Roodman, A.; Salnikov, A. A.; Schindler, R. H.; Schwiening, J.; Snyder, A.; Stelzer, J.; Su, D.; Sullivan, M. K.; Suzuki, K.; Swain, S. K.; Thompson, J. M.; Va'Vra, J.; Van Bakel, N.; Weaver, M.; Weinstein, A. J. R.; Wisniewski, W. J.; Wittgen, M.; Wright, D. H.; Yarritu, A. K.; Yi, K.; Young, C. C.; Burchat, P. R.; Edwards, A. J.; Majewski, S. A.; Petersen, B. A.; Roat, C.; Wilden, L.; Ahmed, S.; Alam, M. S.; Bula, R.; Ernst, J. A.; Jain, V.; Pan, B.; Saeed, M. A.; Wappler, F. R.; Zain, S. B.; Bugg, W.; Krishnamurthy, M.; Spanier, S. M.; Eckmann, R.; Ritchie, J. L.; Satpathy, A.; Schilling, C. J.; Schwitters, R. F.; Izen, J. M.; Kitayama, I.; Lou, X. C.; Ye, S.; Bianchi, F.; Gallo, F.; Gamba, D.; Bomben, M.; Bosisio, L.; Cartaro, C.; Cossutti, F.; Della Ricca, G.; Dittongo, S.; Grancagnolo, S.; Lanceri, L.; Vitale, L.; Azzolini, V.; Martinez-Vidal, F.; Banerjee, Sw.; Bhuyan, B.; Brown, C. M.; Fortin, D.; Hamano, K.; Kowalewski, R.; Nugent, I. M.; Roney, J. M.; Sobie, R. J.; Back, J. J.; Harrison, P. F.; Latham, T. E.; Mohanty, G. B.; Band, H. R.; Chen, X.; Cheng, B.; Dasu, S.; Datta, M.; Eichenbaum, A. M.; Flood, K. T.; Hollar, J. J.; Johnson, J. R.; Kutter, P. E.; Li, H.; Liu, R.; Mellado, B.; Mihalyi, A.; Mohapatra, A. K.; Pan, Y.; Pierini, M.; Prepost, R.; Tan, P.; Wu, S. L.; Yu, Z.; Neal, H.. - In: PHYSICAL REVIEW D, PARTICLES, FIELDS, GRAVITATION, AND COSMOLOGY. - ISSN 1550-7998. - 74:3(2006). [10.1103/PhysRevD.74.032003]
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11388/47516
Citazioni
ND
97
67
social impact
Conferma cancellazione
Sei sicuro che questo prodotto debba essere cancellato?
simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 589/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.