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Precision results on cosmic-ray electrons are presented in the energy range from 0.5 GeV to 1.4 TeV based on 28.1×106 electrons collected by the Alpha Magnetic Spectrometer on the International Space Station. In the entire energy range the electron and positron spectra have distinctly different magnitudes and energy dependences. The electron flux exhibits a significant excess starting from 42.1-5.2+5.4 GeV compared to the lower energy trends, but the nature of this excess is different from the positron flux excess above 25.2±1.8 GeV. Contrary to the positron flux, which has an exponential energy cutoff of 810-180+310 GeV, at the 5σ level the electron flux does not have an energy cutoff below 1.9 TeV. In the entire energy range the electron flux is well described by the sum of two power law components. The different behavior of the cosmic-ray electrons and positrons measured by the Alpha Magnetic Spectrometer is clear evidence that most high energy electrons originate from different sources than high energy positrons
Towards Understanding the Origin of Cosmic-Ray Electrons / Aguilar, M.; Ali Cavasonza, L.; Alpat, B.; Ambrosi, G.; Arruda, L.; Attig, N.; Azzarello, P.; Bachlechner, A.; Barao, F.; Barrau, A.; Barrin, L.; Bartoloni, A.; Basara, L.; Başeǧmez-Du Pree, S.; Battiston, R.; Becker, U.; Behlmann, M.; Beischer, B.; Berdugo, J.; Bertucci, B.; Bindi, V.; De Boer, W.; Bollweg, K.; Borgia, B.; Boschini, M. J.; Bourquin, M.; Bueno, E. F.; Burger, J.; Burger, W. J.; Cai, X. D.; Capell, M.; Caroff, S.; Casaus, J.; Castellini, G.; Cervelli, F.; Chang, Y. H.; Chen, G. M.; Chen, H. S.; Chen, Y.; Cheng, L.; Chou, H. Y.; Choutko, V.; Chung, C. H.; Clark, C.; Coignet, G.; Consolandi, C.; Contin, A.; Corti, C.; Crispoltoni, M.; Cui, Z.; Dadzie, K.; Dai, Y. M.; Datta, A.; Delgado, C.; Della Torre, S.; Demirköz, M. B.; Derome, L.; Di Falco, S.; Di Felice, V.; Dimiccoli, F.; Díaz, C.; Von Doetinchem, P.; Dong, F.; Donnini, F.; Duranti, M.; Egorov, A.; Eline, A.; Eronen, T.; Feng, J.; Fiandrini, E.; Fisher, P.; Formato, V.; Galaktionov, Y.; García-López, R. J.; Gargiulo, C.; Gast, H.; Gebauer, I.; Gervasi, M.; Giovacchini, F.; Gómez-Coral, D. M.; Gong, J.; Goy, C.; Grabski, V.; Grandi, D.; Graziani, M.; Guo, K. H.; Haino, S.; Han, K. C.; He, Z. H.; Heil, M.; Hsieh, T. H.; Huang, H.; Huang, Z. C.; Incagli, M.; Jia, Yi; Jinchi, H.; Kanishev, K.; Khiali, B.; Kirn, Th.; Konak, C.; Kounina, O.; Kounine, A.; Koutsenko, V.; Kulemzin, A.; La Vacca, G.; Laudi, E.; Laurenti, G.; Lazzizzera, I.; Lebedev, A.; Lee, H. T.; Lee, S. C.; Leluc, C.; Li, J. Q.; Li, Q.; Li, T. X.; Li, Z. H.; Light, C.; Lin, C. H.; Lippert, T.; Liu, F. Z.; Liu, Hu; Liu, Z.; Lu, S. Q.; Lu, Y. S.; Luebelsmeyer, K.; Luo, F.; Luo, J. Z.; Luo, Xi; Lyu, S. S.; Machate, F.; Mañá, C.; Marín, J.; Martin, T.; Martínez, G.; Masi, N.; Maurin, D.; Menchaca-Rocha, A.; Meng, Q.; Mo, D. C.; Molero, M.; Mott, P.; Mussolin, L.; Nelson, T.; Ni, J. Q.; Nikonov, N.; Nozzoli, F.; Oliva, A.; Orcinha, M.; Palermo, M.; Palmonari, F.; Paniccia, M.; Pashnin, A.; Pauluzzi, M.; Pensotti, S.; Perrina, C.; Phan, H. D.; Picot-Clemente, N.; Plyaskin, V.; Pohl, M.; Poireau, V.; Popkow, A.; Quadrani, L.; Qi, X. M.; Qin, X.; Qu, Z. Y.; Rancoita, P. G.; Rapin, D.; Conde, A. Reina; Rosier-Lees, S.; Rozhkov, A.; Rozza, D.; Sagdeev, R.; Solano, C.; Schael, S.; Schmidt, S. M.; Von Dratzig, A. Schulz; Schwering, G.; Seo, E. S.; Shan, B. S.; Shi, J. Y.; Siedenburg, T.; Song, J. W.; Sun, Z. T.; Tacconi, M.; Tang, X. W.; Tang, Z. C.; Tian, J.; Ting, Samuel C. C.; Ting, S. M.; Tomassetti, N.; Torsti, J.; Urban, T.; Vagelli, V.; Valente, E.; Valtonen, E.; Acosta, M. Vázquez; Vecchi, M.; Velasco, M.; Vialle, J. P.; Vizán, J.; Wang, L. Q.; Wang, N. H.; Wang, Q. L.; Wang, X.; Wang, X. Q.; Wang, Z. X.; Wei, J.; Weng, Z. L.; Wu, H.; Xiong, R. Q.; Xu, W.; Yan, Q.; Yang, Y.; Yi, H.; Yu, Y. J.; Yu, Z. Q.; Zannoni, M.; Zeissler, S.; Zhang, C.; Zhang, F.; Zhang, J. H.; Zhang, Z.; Zhao, F.; Zheng, Z. M.; Zhuang, H. L.; Zhukov, V.; Zichichi, A.; Zimmermann, N.; Zuccon, P.. - In: PHYSICAL REVIEW LETTERS. - ISSN 0031-9007. - 122:10(2019). [10.1103/PhysRevLett.122.101101]
Towards Understanding the Origin of Cosmic-Ray Electrons
Aguilar, M.;Ali Cavasonza, L.;Alpat, B.;Ambrosi, G.;Arruda, L.;Attig, N.;Azzarello, P.;Bachlechner, A.;Barao, F.;Barrau, A.;Barrin, L.;Bartoloni, A.;Basara, L.;Başeǧmez-Du Pree, S.;Battiston, R.;Becker, U.;Behlmann, M.;Beischer, B.;Berdugo, J.;Bertucci, B.;Bindi, V.;De Boer, W.;Bollweg, K.;Borgia, B.;Boschini, M. J.;Bourquin, M.;Bueno, E. F.;Burger, J.;Burger, W. J.;Cai, X. D.;Capell, M.;Caroff, S.;Casaus, J.;Castellini, G.;Cervelli, F.;Chang, Y. H.;Chen, G. M.;Chen, H. S.;Chen, Y.;Cheng, L.;Chou, H. Y.;Choutko, V.;Chung, C. H.;Clark, C.;Coignet, G.;Consolandi, C.;Contin, A.;Corti, C.;Crispoltoni, M.;Cui, Z.;Dadzie, K.;Dai, Y. M.;Datta, A.;Delgado, C.;Della Torre, S.;Demirköz, M. B.;Derome, L.;Di Falco, S.;Di Felice, V.;Dimiccoli, F.;Díaz, C.;Von Doetinchem, P.;Dong, F.;Donnini, F.;Duranti, M.;Egorov, A.;Eline, A.;Eronen, T.;Feng, J.;Fiandrini, E.;Fisher, P.;Formato, V.;Galaktionov, Y.;García-López, R. J.;Gargiulo, C.;Gast, H.;Gebauer, I.;Gervasi, M.;Giovacchini, F.;Gómez-Coral, D. M.;Gong, J.;Goy, C.;Grabski, V.;Grandi, D.;Graziani, M.;Guo, K. H.;Haino, S.;Han, K. C.;He, Z. H.;Heil, M.;Hsieh, T. H.;Huang, H.;Huang, Z. C.;Incagli, M.;Jia, Yi;Jinchi, H.;Kanishev, K.;Khiali, B.;Kirn, Th.;Konak, C.;Kounina, O.;Kounine, A.;Koutsenko, V.;Kulemzin, A.;La Vacca, G.;Laudi, E.;Laurenti, G.;Lazzizzera, I.;Lebedev, A.;Lee, H. T.;Lee, S. C.;Leluc, C.;Li, J. Q.;Li, Q.;Li, T. X.;Li, Z. H.;Light, C.;Lin, C. H.;Lippert, T.;Liu, F. Z.;Liu, Hu;Liu, Z.;Lu, S. Q.;Lu, Y. S.;Luebelsmeyer, K.;Luo, F.;Luo, J. Z.;Luo, Xi;Lyu, S. S.;MacHate, F.;Mañá, C.;Marín, J.;Martin, T.;Martínez, G.;Masi, N.;Maurin, D.;Menchaca-Rocha, A.;Meng, Q.;Mo, D. C.;Molero, M.;Mott, P.;Mussolin, L.;Nelson, T.;Ni, J. Q.;Nikonov, N.;Nozzoli, F.;Oliva, A.;Orcinha, M.;Palermo, M.;Palmonari, F.;Paniccia, M.;Pashnin, A.;Pauluzzi, M.;Pensotti, S.;Perrina, C.;Phan, H. D.;Picot-Clemente, N.;Plyaskin, V.;Pohl, M.;Poireau, V.;Popkow, A.;Quadrani, L.;Qi, X. M.;Qin, X.;Qu, Z. Y.;Rancoita, P. G.;Rapin, D.;Conde, A. Reina;Rosier-Lees, S.;Rozhkov, A.;Rozza, D.;Sagdeev, R.;Solano, C.;Schael, S.;Schmidt, S. M.;Von Dratzig, A. Schulz;Schwering, G.;Seo, E. S.;Shan, B. S.;Shi, J. Y.;Siedenburg, T.;Song, J. W.;Sun, Z. T.;Tacconi, M.;Tang, X. W.;Tang, Z. C.;Tian, J.;Ting, Samuel C. C.;Ting, S. M.;Tomassetti, N.;Torsti, J.;Urban, T.;Vagelli, V.;Valente, E.;Valtonen, E.;Acosta, M. Vázquez;Vecchi, M.;Velasco, M.;Vialle, J. P.;Vizán, J.;Wang, L. Q.;Wang, N. H.;Wang, Q. L.;Wang, X.;Wang, X. Q.;Wang, Z. X.;Wei, J.;Weng, Z. L.;Wu, H.;Xiong, R. Q.;Xu, W.;Yan, Q.;Yang, Y.;Yi, H.;Yu, Y. J.;Yu, Z. Q.;Zannoni, M.;Zeissler, S.;Zhang, C.;Zhang, F.;Zhang, J. H.;Zhang, Z.;Zhao, F.;Zheng, Z. M.;Zhuang, H. L.;Zhukov, V.;Zichichi, A.;Zimmermann, N.;Zuccon, P.
2019-01-01
Abstract
Precision results on cosmic-ray electrons are presented in the energy range from 0.5 GeV to 1.4 TeV based on 28.1×106 electrons collected by the Alpha Magnetic Spectrometer on the International Space Station. In the entire energy range the electron and positron spectra have distinctly different magnitudes and energy dependences. The electron flux exhibits a significant excess starting from 42.1-5.2+5.4 GeV compared to the lower energy trends, but the nature of this excess is different from the positron flux excess above 25.2±1.8 GeV. Contrary to the positron flux, which has an exponential energy cutoff of 810-180+310 GeV, at the 5σ level the electron flux does not have an energy cutoff below 1.9 TeV. In the entire energy range the electron flux is well described by the sum of two power law components. The different behavior of the cosmic-ray electrons and positrons measured by the Alpha Magnetic Spectrometer is clear evidence that most high energy electrons originate from different sources than high energy positrons
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simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 589/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.
