Special issue on Best of Biometrics 2015 / Tistarelli, Massimo; Beveridge, Ross; Flynn, Patrick; Nappi, Michele. - In: IMAGE AND VISION COMPUTING. - ISSN 0262-8856. - 58:(2017), pp. 108-109. [10.1016/j.imavis.2017.01.008]
Special issue on Best of Biometrics 2015
Tistarelli, Massimo
Membro del Collaboration Group
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2017-01-01
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