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A precision measurement by AMS of the antiproton flux and the antiproton-to-proton flux ratio in primary cosmic rays in the absolute rigidity range from 1 to 450 GV is presented based on 3.49×105 antiproton events and 2.42×109 proton events. The fluxes and flux ratios of charged elementary particles in cosmic rays are also presented. In the absolute rigidity range ∼60 to ∼500 GV, the antiproton p, proton p, and positron e+ fluxes are found to have nearly identical rigidity dependence and the electron e- flux exhibits a different rigidity dependence. Below 60 GV, the (p/p), (p/e+), and (p/e+) flux ratios each reaches a maximum. From ∼60 to ∼500 GV, the (p/p), (p/e+), and (p/e+) flux ratios show no rigidity dependence. These are new observations of the properties of elementary particles in the cosmos.
Antiproton Flux, Antiproton-to-Proton Flux Ratio, and Properties of Elementary Particle Fluxes in Primary Cosmic Rays Measured with the Alpha Magnetic Spectrometer on the International Space Station / Aguilar, M.; Ali Cavasonza, L.; Alpat, B.; Ambrosi, G.; Arruda, L.; Attig, N.; Aupetit, S.; Azzarello, P.; Bachlechner, A.; Barao, F.; Barrau, A.; Barrin, L.; Bartoloni, A.; Basara, L.; Başecmez Du Pree, S.; Battarbee, M.; Battiston, R.; Bazo, J.; Becker, U.; Behlmann, M.; Beischer, B.; Berdugo, J.; Bertucci, B.; Bindi, V.; Boella, G.; De Boer, W.; Bollweg, K.; Bonnivard, V.; Borgia, B.; Boschini, M. J.; Bourquin, M.; Bueno, E. F.; Burger, J.; Cadoux, F.; Cai, X. D.; Capell, M.; Caroff, S.; Casaus, J.; Castellini, G.; Cernuda, I.; Cervelli, F.; Chae, M. J.; Chang, Y. H.; Chen, A. I.; Chen, G. M.; Chen, H. S.; Cheng, L.; Chou, H. Y.; Choumilov, E.; Choutko, V.; Chung, C. H.; Clark, C.; Clavero, R.; Coignet, G.; Consolandi, C.; Contin, A.; Corti, C.; Coste, B.; Creus, W.; Crispoltoni, M.; Cui, Z.; Dai, Y. M.; Delgado, C.; Della Torre, S.; Demirköz, M. B.; Derome, L.; Di Falco, S.; Dimiccoli, F.; Díaz, C.; Von Doetinchem, P.; Dong, F.; Donnini, F.; Duranti, M.; D'Urso, Domenico; Egorov, A.; Eline, A.; Eronen, T.; Feng, J.; Fiandrini, E.; Finch, E.; Fisher, P.; Formato, V.; Galaktionov, Y.; Gallucci, G.; García, B.; García López, R. J.; Gargiulo, C.; Gast, H.; Gebauer, I.; Gervasi, M.; Ghelfi, A.; Giovacchini, F.; Goglov, P.; Gómez Coral, D. M.; Gong, J.; Goy, C.; Grabski, V.; Grandi, D.; Graziani, M.; Guerri, I.; Guo, K. H.; Habiby, M.; Haino, S.; Han, K. C.; He, Z. H.; Heil, M.; Hoffman, J.; Hsieh, T. H.; Huang, H.; Huang, Z. C.; Huh, C.; Incagli, M.; Ionica, M.; Jang, W. Y.; Jinchi, H.; Kang, S. C.; Kanishev, K.; Kim, G. N.; Kim, K. S.; Kirn, T. h.; Konak, C.; Kounina, O.; Kounine, A.; Koutsenko, V.; Krafczyk, M. S.; La Vacca, G.; Laudi, E.; Laurenti, G.; Lazzizzera, I.; Lebedev, A.; Lee, H. T.; Lee, S. C.; Leluc, C.; Li, H. S.; Li, J. Q.; Li, J. Q.; Li, Q.; Li, T. X.; Li, W.; Li, Z. H.; Li, Z. Y.; Lim, S.; Lin, C. H.; Lipari, P.; Lippert, T.; Liu, D.; Liu, Hu; Lu, S. Q.; Lu, Y. S.; Luebelsmeyer, K.; Luo, F.; Luo, J. Z.; Lv, S. S.; Majka, R.; Mañá, C.; Marín, J.; Martin, T.; Martínez, G.; Masi, N.; Maurin, D.; Menchaca Rocha, A.; Meng, Q.; Mo, D. C.; Morescalchi, L.; Mott, P.; Nelson, T.; Ni, J. Q.; Nikonov, N.; Nozzoli, F.; Nunes, P.; Oliva, A.; Orcinha, M.; Palmonari, F.; Palomares, C.; Paniccia, M.; Pauluzzi, M.; Pensotti, S.; Pereira, R.; Picot Clemente, N.; Pilo, F.; Pizzolotto, C.; Plyaskin, V.; Pohl, M.; Poireau, V.; Putze, A.; Quadrani, L.; Qi, X. M.; Qin, X.; Qu, Z. Y.; Räihä, T.; Rancoita, P. G.; Rapin, D.; Ricol, J. S.; Rodríguez, I.; Rosier Lees, S.; Rozhkov, A.; Rozza, D.; Sagdeev, R.; Sandweiss, J.; Saouter, P.; Schael, S.; Schmidt, S. M.; Schulz Von Dratzig, A.; Schwering, G.; Seo, E. S.; Shan, B. S.; Shi, J. Y.; Siedenburg, T.; Son, D.; Song, J. W.; Sun, W. H.; Tacconi, M.; Tang, X. W.; Tang, Z. C.; Tao, L.; Tescaro, D.; Ting, Samuel C. C.; Ting, S. M.; Tomassetti, N.; Torsti, J.; Türkoǧlu, C.; Urban, T.; Vagelli, V.; Valente, E.; Vannini, C.; Valtonen, E.; Vázquez Acosta, M.; Vecchi, M.; Velasco, M.; Vialle, J. P.; Vitale, V.; Vitillo, S.; Wang, L. Q.; Wang, N. H.; Wang, Q. L.; Wang, X.; Wang, X. Q.; Wang, Z. X.; Wei, C. C.; Weng, Z. L.; Whitman, K.; Wienkenhöver, J.; Willenbrock, M.; Wu, H.; Wu, X.; Xia, X.; Xiong, R. Q.; Xu, W.; Yan, Q.; Yang, J.; Yang, M.; Yang, Y.; Yi, H.; Yu, Y. J.; Yu, Z. Q.; Zeissler, S.; Zhang, C.; Zhang, J.; Zhang, J. H.; Zhang, S. D.; Zhang, S. W.; Zhang, Z.; Zheng, Z. M.; Zhu, Z. Q.; Zhuang, H. L.; Zhukov, V.; Zichichi, A.; Zimmermann, N.; Zuccon, P.. - In: PHYSICAL REVIEW LETTERS. - ISSN 0031-9007. - 117:9(2016), p. 091103. [10.1103/PhysRevLett.117.091103]
Antiproton Flux, Antiproton-to-Proton Flux Ratio, and Properties of Elementary Particle Fluxes in Primary Cosmic Rays Measured with the Alpha Magnetic Spectrometer on the International Space Station
Aguilar, M.;Ali Cavasonza, L.;Alpat, B.;Ambrosi, G.;Arruda, L.;Attig, N.;Aupetit, S.;Azzarello, P.;Bachlechner, A.;Barao, F.;Barrau, A.;Barrin, L.;Bartoloni, A.;Basara, L.;Başecmez Du Pree, S.;Battarbee, M.;Battiston, R.;Bazo, J.;Becker, U.;Behlmann, M.;Beischer, B.;Berdugo, J.;Bertucci, B.;Bindi, V.;Boella, G.;De Boer, W.;Bollweg, K.;Bonnivard, V.;Borgia, B.;Boschini, M. J.;Bourquin, M.;Bueno, E. F.;Burger, J.;Cadoux, F.;Cai, X. D.;Capell, M.;Caroff, S.;Casaus, J.;Castellini, G.;Cernuda, I.;Cervelli, F.;Chae, M. J.;Chang, Y. H.;Chen, A. I.;Chen, G. M.;Chen, H. S.;Cheng, L.;Chou, H. Y.;Choumilov, E.;Choutko, V.;Chung, C. H.;Clark, C.;Clavero, R.;Coignet, G.;Consolandi, C.;Contin, A.;Corti, C.;Coste, B.;Creus, W.;Crispoltoni, M.;Cui, Z.;Dai, Y. M.;Delgado, C.;Della Torre, S.;Demirköz, M. B.;Derome, L.;Di Falco, S.;Dimiccoli, F.;Díaz, C.;Von Doetinchem, P.;Dong, F.;Donnini, F.;Duranti, M.;D'URSO, Domenico;Egorov, A.;Eline, A.;Eronen, T.;Feng, J.;Fiandrini, E.;Finch, E.;Fisher, P.;Formato, V.;Galaktionov, Y.;Gallucci, G.;García, B.;García López, R. J.;Gargiulo, C.;Gast, H.;Gebauer, I.;Gervasi, M.;Ghelfi, A.;Giovacchini, F.;Goglov, P.;Gómez Coral, D. M.;Gong, J.;Goy, C.;Grabski, V.;Grandi, D.;Graziani, M.;Guerri, I.;Guo, K. H.;Habiby, M.;Haino, S.;Han, K. C.;He, Z. H.;Heil, M.;Hoffman, J.;Hsieh, T. H.;Huang, H.;Huang, Z. C.;Huh, C.;Incagli, M.;Ionica, M.;Jang, W. Y.;Jinchi, H.;Kang, S. C.;Kanishev, K.;Kim, G. N.;Kim, K. S.;Kirn, T.h.;Konak, C.;Kounina, O.;Kounine, A.;Koutsenko, V.;Krafczyk, M. S.;La Vacca, G.;Laudi, E.;Laurenti, G.;Lazzizzera, I.;Lebedev, A.;Lee, H. T.;Lee, S. C.;Leluc, C.;Li, H. S.;Li, J. Q.;Li, J. Q.;Li, Q.;Li, T. X.;Li, W.;Li, Z. H.;Li, Z. Y.;Lim, S.;Lin, C. H.;Lipari, P.;Lippert, T.;Liu, D.;Liu, Hu;Lu, S. Q.;Lu, Y. S.;Luebelsmeyer, K.;Luo, F.;Luo, J. Z.;Lv, S. S.;Majka, R.;Mañá, C.;Marín, J.;Martin, T.;Martínez, G.;Masi, N.;Maurin, D.;Menchaca Rocha, A.;Meng, Q.;Mo, D. C.;Morescalchi, L.;Mott, P.;Nelson, T.;Ni, J. Q.;Nikonov, N.;Nozzoli, F.;Nunes, P.;Oliva, A.;Orcinha, M.;Palmonari, F.;Palomares, C.;Paniccia, M.;Pauluzzi, M.;Pensotti, S.;Pereira, R.;Picot Clemente, N.;Pilo, F.;Pizzolotto, C.;Plyaskin, V.;Pohl, M.;Poireau, V.;Putze, A.;Quadrani, L.;Qi, X. M.;Qin, X.;Qu, Z. Y.;Räihä, T.;Rancoita, P. G.;Rapin, D.;Ricol, J. S.;Rodríguez, I.;Rosier Lees, S.;Rozhkov, A.;Rozza, D.;Sagdeev, R.;Sandweiss, J.;Saouter, P.;Schael, S.;Schmidt, S. M.;Schulz Von Dratzig, A.;Schwering, G.;Seo, E. S.;Shan, B. S.;Shi, J. Y.;Siedenburg, T.;Son, D.;Song, J. W.;Sun, W. H.;Tacconi, M.;Tang, X. W.;Tang, Z. C.;Tao, L.;Tescaro, D.;Ting, Samuel C. C.;Ting, S. M.;Tomassetti, N.;Torsti, J.;Türkoǧlu, C.;Urban, T.;Vagelli, V.;Valente, E.;Vannini, C.;Valtonen, E.;Vázquez Acosta, M.;Vecchi, M.;Velasco, M.;Vialle, J. P.;Vitale, V.;Vitillo, S.;Wang, L. Q.;Wang, N. H.;Wang, Q. L.;Wang, X.;Wang, X. Q.;Wang, Z. X.;Wei, C. C.;Weng, Z. L.;Whitman, K.;Wienkenhöver, J.;Willenbrock, M.;Wu, H.;Wu, X.;Xia, X.;Xiong, R. Q.;Xu, W.;Yan, Q.;Yang, J.;Yang, M.;Yang, Y.;Yi, H.;Yu, Y. J.;Yu, Z. Q.;Zeissler, S.;Zhang, C.;Zhang, J.;Zhang, J. H.;Zhang, S. D.;Zhang, S. W.;Zhang, Z.;Zheng, Z. M.;Zhu, Z. Q.;Zhuang, H. L.;Zhukov, V.;Zichichi, A.;Zimmermann, N.;Zuccon, P.
2016-01-01
Abstract
A precision measurement by AMS of the antiproton flux and the antiproton-to-proton flux ratio in primary cosmic rays in the absolute rigidity range from 1 to 450 GV is presented based on 3.49×105 antiproton events and 2.42×109 proton events. The fluxes and flux ratios of charged elementary particles in cosmic rays are also presented. In the absolute rigidity range ∼60 to ∼500 GV, the antiproton p, proton p, and positron e+ fluxes are found to have nearly identical rigidity dependence and the electron e- flux exhibits a different rigidity dependence. Below 60 GV, the (p/p), (p/e+), and (p/e+) flux ratios each reaches a maximum. From ∼60 to ∼500 GV, the (p/p), (p/e+), and (p/e+) flux ratios show no rigidity dependence. These are new observations of the properties of elementary particles in the cosmos.
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Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 589/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.
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