The KM3NeT research infrastructure, currently under construction in the Mediterranean Sea, will host neutrino telescopes for the identification of neutrino sources in the Universe and for studies of the neutrino mass hierarchy. These telescopes will house hundreds of thousands of photomultiplier tubes that will have to be operated in a stable and reliable fashion. In this context, the stability of the dark counts has been investigated for photomultiplier tubes with negative high voltage on the photocathode and held in insulating support structures made of 3D printed nylon material. Small gaps between the rigid support structure and the photomultiplier tubes in the presence of electric fields can lead to discharges that produce dark count rates that are highly variable. A solution was found by applying the same insulating varnish as used for the high voltage bases directly to the outside of the photomultiplier tubes. This transparent conformal coating provides a convenient and inexpensive method of insulation. © 2016 IOP Publishing Ltd and Sissa Medialab srl.
A method to stabilise the performance of negatively fed KM3NeT photomultipliers / Adrián-Martínez, S.; Ageron, M.; Aiello, S.; Albert, A.; Ameli, F.; Anassontzis, E. G.; Andre, M.; Androulakis, G.; Anghinolfi, M.; Anton, G.; Ardid, M.; Avgitas, T.; Barbarino, G.; Barbarito, E.; Baret, B.; Barrios-Martí, J.; Belias, A.; Berbee, E.; Van Den Berg, A.; Bertin, V.; Beurthey, S.; Van Beveren, V.; Beverini, N.; Biagi, S.; Biagioni, A.; Billault, M.; Bondì, M.; Bormuth, R.; Bouhadef, B.; Bourlis, G.; Bourret, S.; Boutonnet, C.; Bouwhuis, M.; Bozza, C.; Bruijn, R.; Brunner, J.; Buis, E.; Buompane, R.; Busto, J.; Cacopardo, G.; Caillat, L.; Calamai, M.; Calvo, D.; Capone, A.; Caramete, L.; Cecchini, S.; Celli, S.; Champion, C.; Cherubini, S.; Chiarella, V.; Chiarelli, L.; Chiarusi, T.; Circella, M.; Classen, L.; Cobas, D.; Cocimano, R.; Coelho, J. A. B.; Coleiro, A.; Colonges, S.; Coniglione, R.; Cordelli, M.; Cosquer, A.; Coyle, P.; Creusot, A.; Cuttone, G.; D'Amato, C.; D'Amico, A.; D'Onofrio, A. M.; De Bonis, G.; De Sio, C.; Di Capua, F.; Di Palma, I.; Distefano, C.; Donzaud, C.; Dornic, D.; Dorosti-Hasankiadeh, Q.; Drakopoulou, E.; Drouhin, D.; Durocher, M.; Eberl, T.; Eichie, S.; Van Eijk, D.; El Bojaddaini, I.; Elsaesser, D.; Enzenhöfer, A.; Favaro, M.; Fermani, P.; Ferrara, G.; Frascadore, G.; Furini, M.; Fusco, L. A.; Gal, T.; Galatà, S.; Garufi, F.; Gay, P.; Gebyehu, M.; Giacomini, F.; Gialanella, L.; Giordano, V.; Gizani, N.; Gracia, R.; Graf, K.; Grégoire, T.; Grella, G.; Grmek, A.; Guerzoni, M.; Habel, R.; Hallmann, S.; Van Haren, H.; Harissopulos, S.; Heid, T.; Heijboer, A.; Heine, E.; Henry, S.; Hernández-Rey, J. J.; Hevinga, M.; Hofestädt, J.; Hugon, C. M. F.; Illuminati, G.; James, C. W.; Jansweijer, P.; Jongen, M.; De Jong, M.; Kadler, M.; Kalekin, O.; Kappes, A.; Katz, U. F.; Keller, P.; Kieft, G.; Kießling, D.; Koffeman, E. N.; Kooijman, P.; Kouchner, A.; Kreter, M.; Kulikovskiy, V.; Lahmann, R.; Lamare, P.; Leisos, A.; Leonora, E.; Clark, M. L.; Liolios, A.; Alvarez, C. D. L.; Lo Presti, D.; Löhner, H.; Lonardo, A.; Lotze, M.; Loucatos, S.; Maccioni, E.; Mannheim, K.; Manzali, M.; Margiotta, A.; Margotti, A.; Marinelli, A.; Mariš, O.; Markou, C.; Martínez-Mora, J. A.; Martini, A.; Marzaioli, F.; Mele, R.; Melis, K. W.; Michael, T.; Migliozzi, P.; Migneco, E.; Mijakowski, P.; Miraglia, A.; Mollo, C. M.; Mongelli, M.; Morganti, M.; Moussa, A.; Musico, P.; Musumeci, M.; Nicolau, C. A.; Olcina, I.; Olivetto, C.; Orlando, A.; Orzelli, A.; Pancaldi, G.; Paolucci, A.; Papaikonomou, A.; Papaleo, R.; Pǎvǎlaš, G. E.; Peek, H.; Pellegrini, G.; Pellegrino, C.; Perrina, C.; Pfutzner, M.; Piattelli, P.; Pikounis, K.; Poma, G. E.; Popa, V.; Pradier, T.; Pratolongo, F.; Pühlhofer, G.; Pulvirenti, S.; Quinn, L.; Racca, C.; Raffaelli, F.; Randazzo, N.; Real, D.; Resvanis, L.; Reubelt, J.; Riccobene, G.; Rossi, C.; Rovelli, A.; Saldaña, M.; Salvadori, I.; Samtleben, D. F. E.; Sánchez García, A.; Sánchez Losa, A.; Sanguineti, M.; Santangelo, A.; Santonocito, D.; Sapienza, P.; Schimmel, F.; Schmelling, J.; Schnabel, J.; Sciacca, V.; Sedita, M.; Seitz, T.; Sgura, I.; Simeone, F.; Sipala, V.; Spisso, B.; Spurio, M.; Stavropoulos, G.; Steijger, J.; Stellacci, S. M.; Stransky, D.; Taiuti, M.; Tayalati, Y.; Terrasi, F.; Tézier, D.; Theraube, S.; Timmer, P.; Tönnis, C.; Trasatti, L.; Travaglini, R.; Trovato, A.; Tsirigotis, A.; Tzamarias, S.; Tzamariudaki, E.; Vallage, B.; Van Elewyck, V.; Vermeulen, J.; Versari, F.; Vicini, P.; Viola, S.; Vivolo, D.; Volkert, M.; Wiggers, L.; Wilms, J.; De Wolf, E.; Zachariadou, K.; Zani, S.; Zornoza, J. D.; Zúñiga, J.. - In: JOURNAL OF INSTRUMENTATION. - ISSN 1748-0221. - 11:12(2016), p. P12014. [10.1088/1748-0221/11/12/P12014]
A method to stabilise the performance of negatively fed KM3NeT photomultipliers
Adrián-Martínez, S.; Ageron M.; Aiello S.; Albert, A.; Ameli, F.; Anassontzis, E. G.; Andre, M.; Androulakis, G.; Anghinolfi, M.; Anton, G.; Ardid, M.; Avgitas, T.; Barbarino, G.; Barbarito, E.; Baret, B.; Barrios-Martí, J.; Belias, A.; Berbee, E.; Van Den Berg, A.; Bertin, V.; Beurthey, S.; Van Beveren, V.; Beverini, N.; Biagi, S.; Biagioni, A.; Billault, M.; Bondì, M.; Bormuth, R.; Bouhadef, B.; Bourlis, G.; Bourret, S.; Boutonnet, C.; Bouwhuis, M.; Bozza, C.; Bruijn, R.; Brunner, J.; Buis, E.; Buompane, R.; Busto, J.; Cacopardo, G.; Caillat, L.; Calamai, M.; Calvo, D.; Capone, A.; Caramete, L.; Cecchini, S.; Celli, S.; Champion, C.; Cherubini, S.; Chiarella, V.; Chiarelli, L.; Chiarusi, T.; Circella, M.; Classen, L.; Cobas, D.; Cocimano, R.; Coelho, J. A. B.; Coleiro, A.; Colonges, S.; Coniglione, R.; Cordelli, M.; Cosquer, A.; Coyle, P.; Creusot, A.; Cuttone, G.; D'Amato, C.; D'Amico, A.; D'Onofrio, A. M.; De Bonis, G.; De Sio, C.; Di Capua, F.; Di Palma, I.; Distefano, C.; Donzaud, C.; Dornic, D.; Dorosti-Hasankiadeh, Q.; Drakopoulou, E.; Drouhin, D.; Durocher, M.; Eberl, T.; Eichie, S.; Van Eijk, D.; El Bojaddaini, I.; Elsaesser, D.; Enzenhöfer, A.; Favaro, M.; Fermani, P.; Ferrara, G.; Frascadore, G.; Furini, M.; Fusco, L. A.; Gal, T.; Galatà, S.; Garufi, F.; Gay, P.; Gebyehu, M.; Giacomini, F.; Gialanella, L.; Giordano, V.; Gizani, N.; Gracia, R.; Graf, K.; Grégoire, T.; Grella, G.; Grmek, A.; Guerzoni, M.; Habel, R.; Hallmann, S.; Van Haren, H.; Harissopulos, S.; Heid, T.; Heijboer, A.; Heine, E.; Henry, S.; Hernández-Rey, J. J.; Hevinga, M.; Hofestädt, J.; Hugon, C. M. F.; Illuminati, G.; James, C. W.; Jansweijer, P.; Jongen, M.; De Jong, M.; Kadler, M.; Kalekin, O.; Kappes, A.; Katz, U. F.; Keller, P.; Kieft, G.; Kießling, D.; Koffeman, E. N.; Kooijman, P.; Kouchner, A.; Kreter, M.; Kulikovskiy, V.; Lahmann, R.; Lamare, P.; Leisos, A.; Leonora, E.; Clark, M. L.; Liolios, A.; Alvarez, C. D. L.; Lo Presti, D.; Löhner, H.; Lonardo, A.; Lotze, M.; Loucatos, S.; Maccioni, E.; Mannheim, K.; Manzali, M.; Margiotta, A.; Margotti, A.; Marinelli, A.; Mariš, O.; Markou, C.; Martínez-Mora, J. A.; Martini, A.; Marzaioli, F.; Mele, R.; Melis, K. W.; Michael, T.; Migliozzi, P.; Migneco, E.; Mijakowski, P.; Miraglia, A.; Mollo, C. M.; Mongelli, M.; Morganti, M.; Moussa, A.; Musico, P.; Musumeci, M.; Nicolau, C. A.; Olcina, I.; Olivetto, C.; Orlando, A.; Orzelli, A.; Pancaldi, G.; Paolucci, A.; Papaikonomou, A.; Papaleo, R.; Pǎvǎlaš, G. E.; Peek, H.; Pellegrini, G.; Pellegrino, C.; Perrina, C.; Pfutzner, M.; Piattelli, P.; Pikounis, K.; Poma, G. E.; Popa, V.; Pradier, T.; Pratolongo, F.; Pühlhofer, G.; Pulvirenti, S.; Quinn, L.; Racca, C.; Raffaelli, F.; Randazzo, N.; Real, D.; Resvanis, L.; Reubelt, J.; Riccobene, G.; Rossi, C.; Rovelli, A.; Saldaña, M.; Salvadori, I.; Samtleben, D. F. E.; Sánchez García, A.; Sánchez Losa, A.; Sanguineti, M.; Santangelo, A.; Santonocito, D.; Sapienza, P.; Schimmel, F.; Schmelling, J.; Schnabel, J.; Sciacca, V.; Sedita, M.; Seitz, T.; Sgura, I.; Simeone, F.; Sipala, V. ;Spisso, B.; Spurio, M.; Stavropoulos, G.; Steijger, J.; Stellacci, S. M.; Stransky, D.; Taiuti, M.; Tayalati, Y.; Terrasi, F.; Tézier, D.; Theraube, S.; Timmer, P.; Tönnis, C.; Trasatti, L.; Travaglini, R.; Trovato, A.; Tsirigotis, A.; Tzamarias, S.; Tzamariudaki, E.; Vallage, B.; Van Elewyck, V.; Vermeulen, J.; Versari, F.; Vicini, P.; Viola, S.; Vivolo, D.; Volkert, M.; Wiggers, L.; Wilms, J.; De Wolf, E.; Zachariadou, K.; Zani, S.; Zornoza, J. D.; Zúñiga, J.
2016-01-01
Abstract
The KM3NeT research infrastructure, currently under construction in the Mediterranean Sea, will host neutrino telescopes for the identification of neutrino sources in the Universe and for studies of the neutrino mass hierarchy. These telescopes will house hundreds of thousands of photomultiplier tubes that will have to be operated in a stable and reliable fashion. In this context, the stability of the dark counts has been investigated for photomultiplier tubes with negative high voltage on the photocathode and held in insulating support structures made of 3D printed nylon material. Small gaps between the rigid support structure and the photomultiplier tubes in the presence of electric fields can lead to discharges that produce dark count rates that are highly variable. A solution was found by applying the same insulating varnish as used for the high voltage bases directly to the outside of the photomultiplier tubes. This transparent conformal coating provides a convenient and inexpensive method of insulation. © 2016 IOP Publishing Ltd and Sissa Medialab srl.
Citazione
A method to stabilise the performance of negatively fed KM3NeT photomultipliers / Adrián-Martínez, S.; Ageron, M.; Aiello, S.; Albert, A.; Ameli, F.; Anassontzis, E. G.; Andre, M.; Androulakis, G.; Anghinolfi, M.; Anton, G.; Ardid, M.; Avgitas, T.; Barbarino, G.; Barbarito, E.; Baret, B.; Barrios-Martí, J.; Belias, A.; Berbee, E.; Van Den Berg, A.; Bertin, V.; Beurthey, S.; Van Beveren, V.; Beverini, N.; Biagi, S.; Biagioni, A.; Billault, M.; Bondì, M.; Bormuth, R.; Bouhadef, B.; Bourlis, G.; Bourret, S.; Boutonnet, C.; Bouwhuis, M.; Bozza, C.; Bruijn, R.; Brunner, J.; Buis, E.; Buompane, R.; Busto, J.; Cacopardo, G.; Caillat, L.; Calamai, M.; Calvo, D.; Capone, A.; Caramete, L.; Cecchini, S.; Celli, S.; Champion, C.; Cherubini, S.; Chiarella, V.; Chiarelli, L.; Chiarusi, T.; Circella, M.; Classen, L.; Cobas, D.; Cocimano, R.; Coelho, J. A. B.; Coleiro, A.; Colonges, S.; Coniglione, R.; Cordelli, M.; Cosquer, A.; Coyle, P.; Creusot, A.; Cuttone, G.; D'Amato, C.; D'Amico, A.; D'Onofrio, A. M.; De Bonis, G.; De Sio, C.; Di Capua, F.; Di Palma, I.; Distefano, C.; Donzaud, C.; Dornic, D.; Dorosti-Hasankiadeh, Q.; Drakopoulou, E.; Drouhin, D.; Durocher, M.; Eberl, T.; Eichie, S.; Van Eijk, D.; El Bojaddaini, I.; Elsaesser, D.; Enzenhöfer, A.; Favaro, M.; Fermani, P.; Ferrara, G.; Frascadore, G.; Furini, M.; Fusco, L. A.; Gal, T.; Galatà, S.; Garufi, F.; Gay, P.; Gebyehu, M.; Giacomini, F.; Gialanella, L.; Giordano, V.; Gizani, N.; Gracia, R.; Graf, K.; Grégoire, T.; Grella, G.; Grmek, A.; Guerzoni, M.; Habel, R.; Hallmann, S.; Van Haren, H.; Harissopulos, S.; Heid, T.; Heijboer, A.; Heine, E.; Henry, S.; Hernández-Rey, J. J.; Hevinga, M.; Hofestädt, J.; Hugon, C. M. F.; Illuminati, G.; James, C. W.; Jansweijer, P.; Jongen, M.; De Jong, M.; Kadler, M.; Kalekin, O.; Kappes, A.; Katz, U. F.; Keller, P.; Kieft, G.; Kießling, D.; Koffeman, E. N.; Kooijman, P.; Kouchner, A.; Kreter, M.; Kulikovskiy, V.; Lahmann, R.; Lamare, P.; Leisos, A.; Leonora, E.; Clark, M. L.; Liolios, A.; Alvarez, C. D. L.; Lo Presti, D.; Löhner, H.; Lonardo, A.; Lotze, M.; Loucatos, S.; Maccioni, E.; Mannheim, K.; Manzali, M.; Margiotta, A.; Margotti, A.; Marinelli, A.; Mariš, O.; Markou, C.; Martínez-Mora, J. A.; Martini, A.; Marzaioli, F.; Mele, R.; Melis, K. W.; Michael, T.; Migliozzi, P.; Migneco, E.; Mijakowski, P.; Miraglia, A.; Mollo, C. M.; Mongelli, M.; Morganti, M.; Moussa, A.; Musico, P.; Musumeci, M.; Nicolau, C. A.; Olcina, I.; Olivetto, C.; Orlando, A.; Orzelli, A.; Pancaldi, G.; Paolucci, A.; Papaikonomou, A.; Papaleo, R.; Pǎvǎlaš, G. E.; Peek, H.; Pellegrini, G.; Pellegrino, C.; Perrina, C.; Pfutzner, M.; Piattelli, P.; Pikounis, K.; Poma, G. E.; Popa, V.; Pradier, T.; Pratolongo, F.; Pühlhofer, G.; Pulvirenti, S.; Quinn, L.; Racca, C.; Raffaelli, F.; Randazzo, N.; Real, D.; Resvanis, L.; Reubelt, J.; Riccobene, G.; Rossi, C.; Rovelli, A.; Saldaña, M.; Salvadori, I.; Samtleben, D. F. E.; Sánchez García, A.; Sánchez Losa, A.; Sanguineti, M.; Santangelo, A.; Santonocito, D.; Sapienza, P.; Schimmel, F.; Schmelling, J.; Schnabel, J.; Sciacca, V.; Sedita, M.; Seitz, T.; Sgura, I.; Simeone, F.; Sipala, V.; Spisso, B.; Spurio, M.; Stavropoulos, G.; Steijger, J.; Stellacci, S. M.; Stransky, D.; Taiuti, M.; Tayalati, Y.; Terrasi, F.; Tézier, D.; Theraube, S.; Timmer, P.; Tönnis, C.; Trasatti, L.; Travaglini, R.; Trovato, A.; Tsirigotis, A.; Tzamarias, S.; Tzamariudaki, E.; Vallage, B.; Van Elewyck, V.; Vermeulen, J.; Versari, F.; Vicini, P.; Viola, S.; Vivolo, D.; Volkert, M.; Wiggers, L.; Wilms, J.; De Wolf, E.; Zachariadou, K.; Zani, S.; Zornoza, J. D.; Zúñiga, J.. - In: JOURNAL OF INSTRUMENTATION. - ISSN 1748-0221. - 11:12(2016), p. P12014. [10.1088/1748-0221/11/12/P12014]
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Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande. La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 589/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.